제품특징
여러 Cobalt Array Imager 장비를 유연하게 배치하여 확장된 관측 시야를 확보하고, 데이터 캡처 속도를 높임
탑재형 프로세싱을 통해 데이터를 PC로 전송하기 전 정확한 포인트 클라우드 데이터를 계산이 가능
상세한 디테일이나 특징 또는 모서리나 가장자리을 캡처하기 위해 정밀도가 중요한 검사에 적합
어두운 표면, 밝은 표면, 다양한 색상, 텍스처 및 반사도로 복잡한 부품을 쉽게 처리
모든 상황에 맞는 최상의 데이터를 보장하기 위해 최적의 노출 설정이 가능